针尖增强半导体材料光谱测试系统
发布者：系统管理员审核：终审：发布时间：2017-04-13浏览次数：1925
 | 仪器中文名称: 针尖增强半导体材料光谱测试系统 |
| 仪器英文名称:Scanning Near-field Optical Microscopy |
| 规格型号: Tria-SNOM | 产地: 意大利 |
| 生产厂商: A.P.E.Research | 仪器原值: 188万 |
| 应用领域: 材料学、化学、近场光学 | 使用方式: 对外开放 |
| 运行状态: 正常 | 收费标准: 近场分析1000元/小时、系内800/小时，重点实验室内600/小时 针尖增强拉曼/荧光1500元/ |
| 所在单位: 硅材料国家重点实验室 | 仪器负责人: 李东升 |
| 安放地点: 玉泉校区硅材料2号楼109 | 联系电话: |
| 启用日期: 2016.1 | Email: mselds@zju.edu.cn |
设备信息
仪器主要用途 | 微观表面形貌、纳米颗粒分析，超分辨光学成像 近场光谱测量（Raman、PL） 纳米光场、磁场测量
| 主要技术指标 | 光学成像分辨率10 nm 与光谱仪联用，同时得到形貌像与近场光谱
| 主要附件 | AFM Head Princeton 光谱仪、PyLoN CCD
| 功能特色 | | 样品要求 | 干燥、洁净、固体样 |
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