针尖增强半导体材料光谱测试系统

发布者:系统管理员发布时间:2017-04-13浏览次数:1482

仪器中文名称: 针尖增强半导体材料光谱测试系统
仪器英文名称:Scanning Near-field Optical Microscopy
规格型号: Tria-SNOM产地: 意大利
生产厂商: A.P.E.Research仪器原值: 188万
应用领域: 材料学、化学、近场光学使用方式: 对外开放
运行状态: 正常收费标准: 近场分析1000元/小时、系内800/小时,重点实验室内600/小时 针尖增强拉曼/荧光1500元/
所在单位: 硅材料国家重点实验室仪器负责人: 李东升
安放地点: 玉泉校区硅材料2号楼109联系电话:
启用日期: 2016.1Email: mselds@zju.edu.cn

设备信息

 

仪器主要用途
  • 微观表面形貌、纳米颗粒分析,超分辨光学成像

  • 近场光谱测量(RamanPL

  • 纳米光场、磁场测量

主要技术指标
  • 光学成像分辨率10 nm

  • 与光谱仪联用,同时得到形貌像与近场光谱

主要附件
  • AFM Head

  • Princeton        光谱仪、PyLoN CCD

功能特色
  • 近场光场参数和光谱测量

样品要求
      干燥、洁净、固体样