 | 仪器中文名称: 低维硅材料的原位扫描隧道显微分析系统 | |
| 仪器英文名称:Scanning tunneling microscopy system for the in-situ analysis of low-dimensional silicon materials | ||
| 规格型号: LT-STM+MBE | 产地: 德国 | |
| 生产厂商: CREATEC | 仪器原值: 4273034 | |
| 应用领域: 材料学、物理学 | 使用方式: | |
| 运行状态: 正常 | 收费标准: | |
| 所在单位: 硅材料国家重点实验室 | 仪器负责人: 皮孝东 | |
| 安放地点: 玉泉校区硅材料3号楼100 | 联系电话: | |
| 启用日期: 2017.1 | Email: xdpi@zju.edu.cn | |
设备信息
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