角分辨X射线光电子能谱仪
发布者：系统管理员发布时间：2017-04-13浏览次数：2667
 | 仪器中文名称: 角分辨X射线光电子能谱仪 |
| 仪器英文名称:X-ray photoelectron spectrometer (XPS) |
| 规格型号: AXIS SUPRA | 产地: 英国 |
| 生产厂商: Ktatos | 仪器原值: 600万元 |
| 应用领域: 材料，物理，化学、环境等 | 使用方式: 预约 |
| 运行状态: 正常 | 收费标准: 校内标准：200元/全谱，80元/分谱； 校外价格：400元/全谱，160元/分谱 |
| 所在单位: 硅材料国家重点实验室 | 仪器负责人: 朱笑东 |
| 安放地点: 门卫楼104 | 联系电话: |
| 启用日期: 2016年 | Email: zhuxd@zju.edu.cn |
设备信息
仪器主要用途 | 分析固体表面的组成、化学状态，并进行定量或者半定量分析。广泛应用于元素分析，多相研究、化合物结构鉴定、富集微量元素分析、元素价态分析等。此外，在氧化、腐蚀、摩擦、催化、包覆等微观机理研究；污染化学及尘埃粒子研究等环保测定、分子生物化学、三维剖析等方面都有所应用。 | 主要技术指标 | 单色化Al/Ag靶、双阳极Al/Mg靶，功率最大至600W；
拥有平均半径165mm的半球型扇形和同心球镜双层能量分析器，能量分辨优于0.5eV/(Ag 3d5/2), 0.8 eV/(C 1s); XPS分析区域：2000×800μm，700×300μm，110μm，55μm，27μm和15μm； 成像模式下，最小二维采样区域为200um*200um； 表面元素检测限约为0.1%~1.0%(原子比) | 主要附件 | 紫外光源, 微束IV型高通能离子枪 | 功能特色 | 对样品表面元素和价态分布进行成像分析；对样品表面进行深度分析；采用超低能单电子源荷电中和器，对于表面凸凹不平的样品可以获得完美的分析结果 | 样品要求 | 无磁性、无放射性、无毒性、无腐蚀性(无酸处理残留物)、无挥发性，不大量放气（尤其腐蚀性气体）; 厚度小于2mm；面积大小为5 mm×5 mm；粉末样品最好压片（直径小于8mm），或者转移至平整的衬底上。如果是粉末样品，颗粒要小，以利于均匀平整得粘着在胶上；确保样品分析面不受污染，使用玻璃制或者者铝箔盛放样品，禁止直接使用塑料容器、塑料袋或纸袋；制备或处理样品时使用聚乙烯手套，禁止使用塑料手套和工具。 | 收费标准 | 校内标准：200元/全谱，80元/分谱； 校外价格：400元/全谱，160元/分谱 |
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