原子力显微镜
发布者:系统管理员发布时间:2013-05-30浏览次数:6498
| 仪器中文名称: 原子力显微镜 |
仪器英文名称:Atomic Force Microscope |
规格型号: DI instrument Nanoscope 3D Multimode SPM | 产地: 美国 |
生产厂商: Veeco | 仪器原值: 1219016.00 |
应用领域: 材料学、物理、化学 | 使用方式: 周五对外开放 |
运行状态: 正常 | 收费标准: 校内150元 / 小时,校外200元 / 小时,探针需自行购买 |
所在单位: 硅材料国家重点实验室 | 仪器负责人: 陈红征 |
安放地点: 硅材料国家重点实验室 | 联系电话: 0571-87952557 |
启用日期: 2007-12-01 | Email: hzchen@zju.edu.cn |
设备信息
仪器主要用途 | | 主要技术指标 | 1)样品表面形貌:大范围扫描,XY范围不小于50μm50μm 10%,Z范围不小于5μm10%;噪声≤0.5 nm RMS。小范围扫描,XY范围10μm10μm 10%,噪声≤ 0.1 nm RMS;Z范围2μm 10%,噪声≤ 0.05 nm RMS。 2)电学性能测试:电流模式,空间分辨率2nm 2nm,驱动电压≥±10V。电位模式,空间分辨率2nm 2nm,表面电压噪声≤ 1.0V,可提供接触和/或轻敲模式的测试技术。在普通KFM模式的基础上,配备光线导入接口,适合进行光诱导的电学性能测试。 3)电化学模式:可在恒电流模式或恒电压模式下使用接触式、轻敲式或非接触式进行扫描影像和电化学谱线量测分析(I-V,I-t,V-t)。 4)磁性能测试:磁畴的空间分辨率不低于20nm 10%;Z范围 5nm 10%。
| 主要附件 | | 功能特色 | | 样品要求 | 平整固体样品 |
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