傅里叶红外光谱仪

发布者：系统管理员发布时间：2013-05-30浏览次数：5993

	仪器中文名称: 傅里叶红外光谱仪
	仪器英文名称:Fourier Transform Infrared Spectroscopy
	规格型号: IFS 66v/S	产地: 德国
	生产厂商: Bruker	仪器原值: 1117368.00
	应用领域: 材料学、晶体学、化学	使用方式: 对外开放
	运行状态: 正常	收费标准: 校内300元 / 小时
	所在单位: 硅材料国家重点实验室	仪器负责人: 余学功
	安放地点: 硅材料国家重点实验室1号楼210房间	联系电话: 0571-87953003
	启用日期: 2003-01-01	Email: yuxuegong@zju.edu.cn

设备信息

仪器主要用途	测试半导体材料中的杂质浓度
主要技术指标	光谱范围： 7,500－370 cm-1 分辨率：优于0.25 cm-1 波数精度：优于0.01 cm-1 透光率精度：优于0.1%T 信/噪比：高于36,000：1（峰－峰值），DTGS检测器，4cm-1分辨率，谱区范围2200-2100 cm-1，1分钟测试。
主要附件	红外显微镜低温样品台
功能特色	测试硅中的氧碳含量。可在低温条件下测试，温度最低可到10K。
样品要求	测试样品厚度要大于0.2mm，在1-3mm较适宜；适宜轻掺的样品避免载流子吸收，n型电阻率大于0.1Ωcm，p型的电阻率大于1.0Ωcm ；样品需双面抛光，达到光亮状态，减小表面散射的作用。