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低维硅材料的原位扫描隧道显微分析系统

编辑:admin 日期:2017-04-13 15:03 访问次数:432
仪器中文名称: 低维硅材料的原位扫描隧道显微分析系统
仪器英文名称:Scanning tunneling microscopy system for the in-situ analysis of low-dimensional silicon materials
规格型号: LT-STM+MBE 产地: 德国
生产厂商: CREATEC 仪器原值: 4273034
应用领域: 材料学、物理学 使用方式:
运行状态: 正常 收费标准:
所在单位: 硅材料国家重点实验室 仪器负责人: 皮孝东
安放地点: 玉泉校区硅材料3号楼100 联系电话:
启用日期: 2017.1 Email: xdpi@zju.edu.cn

设备信息

 

仪器主要用途
  • 对材料的表面原子结构进行原位观测;
  • 获得材料表面的电子结构信息;
主要技术指标
  • 扫描范围:1.8 μm×1.8 μm 4K),4 μm×4 μm 77K);
  • 分辨率:~ 2 pm 4K);
  • 最小隧穿电流:2 pA
主要附件
分子束外延系统;变温电学测试传样杆
功能特色
材料的原位生长和观测
样品要求
导电、表面干净、无有机物

 
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