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原子力显微镜

编辑:admin 日期:2013-05-30 11:11 访问次数:5170
仪器中文名称: 原子力显微镜
仪器英文名称:Atomic Force Microscope
规格型号: DI instrument Nanoscope 3D Multimode SPM 产地: 美国
生产厂商: Veeco 仪器原值: 1219016.00
应用领域: 材料学、物理、化学 使用方式: 周五对外开放
运行状态: 正常 收费标准: 校内150元 / 小时,校外200元 / 小时,探针需自行购买
所在单位: 硅材料国家重点实验室 仪器负责人: 陈红征
安放地点: 硅材料国家重点实验室 联系电话: 0571-87952557
启用日期: 2007-12-01 Email: hzchen@zju.edu.cn

设备信息

仪器主要用途
  • 主要应用于材料、物理、化学、生物等领域的表面形貌研究。系统可以提供样品在大气、溶液及原位状态的研究,可以方便地控制湿度、环境气氛和温度等一系列条件,可得到高分辨的形貌、电位、电流、磁畴、黏弹力等图像。
主要技术指标
  • 1)样品表面形貌:大范围扫描,XY范围不小于50μm50μm 10%Z范围不小于5μm10%;噪声≤0.5 nm RMS。小范围扫描,XY范围10μm10μm 10%,噪声≤ 0.1 nm RMSZ范围2μm 10%,噪声≤ 0.05 nm RMS
  • 2)电学性能测试:电流模式,空间分辨率2nm 2nm,驱动电压≥±10V。电位模式,空间分辨率2nm 2nm,表面电压噪声≤ 1.0V,可提供接触和/或轻敲模式的测试技术。在普通KFM模式的基础上,配备光线导入接口,适合进行光诱导的电学性能测试。
  • 3)电化学模式:可在恒电流模式或恒电压模式下使用接触式、轻敲式或非接触式进行扫描影像和电化学谱线量测分析(I-VI-tV-t)。
  • 4)磁性能测试:磁畴的空间分辨率不低于20nm 10%Z范围 5nm 10%
主要附件
  •  
功能特色
  • 采用模块化设计,一个系统能为多学科联合使用。
样品要求
平整固体样品


 
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