型号：Bede D1

特点：分辨率高，可根据不同的测试对象选择不同的光路，X-ray最小展宽低达4.5秒。样品台可放置6到12英寸的硅片，适合分析各种单晶、多晶薄膜的结晶质量和应力状态等。

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